{"id":305,"date":"2023-08-07T12:00:00","date_gmt":"2023-08-07T10:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/eblum.ch\/?page_id=305"},"modified":"2025-02-13T13:42:54","modified_gmt":"2025-02-13T12:42:54","slug":"rastersondenmikroskopie","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/eblum.ch\/de\/technologiegebiete\/rastersondenmikroskopie\/","title":{"rendered":"Rastersondenmikroskopie"},"content":{"rendered":"\n<p>Bei der&nbsp;<a href=\"https:\/\/de.wikipedia.org\/wiki\/Rastersondenmikroskopie\">Rastersondenmikroskopie<\/a>&nbsp;(SPM von engl. Scanning Probe Microscopy) werden mit einer physikalischen Sonde Bilder von Probenoberfl\u00e4chen erzeugt. Dabei wird die Probe mit einer solchen Sonde, z.B. einer scharfen Spitze \u2013 in Direktkontakt oder aus kleinem Abstand \u2013 abgetastet, w\u00e4hrend die Interaktion zwischen der Sonde und der Oberfl\u00e4che gemessen wird. Typischerweise wird ein Rasterscan der Probe durchgef\u00fchrt und die Interaktion zwischen Sonde und Oberfl\u00e4che als Funktion der Position aufgezeichnet. Die gemessenen Daten liegen daher normalerweise als zweidimensionales Raster von Datenpunkten vor.<\/p>\n\n\n\n<p>Die ersten Rastersondenmikroskope nutzten das Tunneling-Prinzip (Rastertunnelmikroskopie, RTM). Hier wird der Strom gemessen, der zwischen Sondenspitze und Probe fliesst. Dabei steht die Spitze nicht in direktem Kontakt mit der Probe und die Elektronen \u201etunneln\u201c durch den Spalt zwischen den beiden Komponenten. Den ersten RTM-Mikroskopen folgten bald Rasterkraftmikroskopie (RKM), bei welchen kleinste Kr\u00e4fte zwischen Sondenspitze und Probe gemessen werden. SPM Mikroskope k\u00f6nnen z.B. zum Abbilden einzelner Atome oder Molek\u00fcle, elektrischer Oberfl\u00e4cheneigenschaften oder Nanostrukturen eingesetzt werden.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Bei der&nbsp;Rastersondenmikroskopie&nbsp;(SPM von engl. Scanning Probe Microscopy) werden mit einer physikalischen Sonde Bilder von Probenoberfl\u00e4chen erzeugt. Dabei wird die Probe mit einer solchen Sonde, z.B. einer scharfen Spitze \u2013 in Direktkontakt oder aus kleinem Abstand \u2013 abgetastet, w\u00e4hrend die Interaktion zwischen der Sonde und der Oberfl\u00e4che gemessen wird. 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